如何使用芯片测试系统对电源管理芯片的欠压

在手动测试芯片的UVLO过程中我们也会测试到芯片的启动电压和欠压关断滞后电压，所以这三个指标可以一起进行测量;测试这些指标我们需要一台电源和数字万用表即可，电源给芯片的输入一个电压，万用表则测试芯片的输出电压。

这个过程需要电源在输入端从0逐渐提升输入电压直至万用表上读到芯片的额定输出电压为止，此时电源上设置的电压即为启动电压;然后将启动电压逐渐降低，直至万用表上的输出电压值消失，此时电源上的电压即为UVLO电压，这两个电压差即为欠压关断滞后电压。

芯片自动化测试

我们可以看到手动测试这些指标时，需要按照顺序不停的调整电源输出电压，同时需要注意万用表的读数，所以整个测试过程十分缓慢，面对大批量芯片测试时不仅效率极低，而且对于测试人员的精力和技术要求很高，所以在芯片的研发和产线测试中手动测试很不适用。

ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统界面

面对这一系列问题和现状自动化的测试系统应运而生，芯片自动化测试系统在针对需要多次循环和高精度要求的测试场景中优势尤为明显。通常这些测试场景中手动测试只能手动一步步调整参数实现步进任务，高精度的触发读数也只能依靠目测，而在欠压锁定的测试项目中芯片测试系统只需要人工提前将仪器接线完成，然后通过循环、判断以及读取指令即可完成复杂的测试过程，系统通过循环指令将电源从0递增至启动电压，然后在递减至欠压关断电压，整个测试过程只需1分钟，而人工测试则至少需要5-10分钟，系统测试效率是人工测试的5-10倍，而且数据的精准度也是人工无法比拟的。

同时系统中的数据报告和洞察功能，可以对测试数据进行整体分析和储存，可以保证企业的数据安全，为企业的发展决策提供明确的数据支持，所以对企业而言芯片测试系统不仅可以提升测试效率，还可以为企业减少测试人员的时间和人工成本，从而进一步提升企业的核心竞争力。

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