可控硅测量方法图解
《可控硅测量方法图解》是年化学工业出版社出版的图书，作者是王玉华。本书以通俗的语言介绍了可控硅的测试方法、原理和注意事项等。内容简介《可控硅测量方法图解》主要内容包括：概述；直流电阻法；交流阻抗法；伏安特性法；温度系数分析法；光电效应法和压阻效应法等。
[1]图书目录1概述
1.1可控硅的种类
1.2可控硅的特性
1.3检测仪表的分类
1.4电桥式电流表
1.5钳形电流表
1.6万用表
1.7数字万用表
1.8直流电位差计
1.9半导体制冷机中的电子器件
2.10电子管放大器
2.11单结晶体管放大电路
2.12场效应管放大电路
2.13多级放大器
2.14集成运算放大器（IC）
2.15晶闸管及其控制电路
2.3温度系数分析方法
2.1热电偶
2.2热电阻
3直流电阻
3.1电位差计
3.2伏安特性
3.3光学高温计
3.4高温试验箱
3.5真空度仪
3.6其他
4交流阻抗
4.1三相电压
4.2三相电流
4.3相序
4.4同步检波器
4.5波形发生器
4.6功率因数校正装置
4.7无功功率补偿设备
4.8有功功率补偿设备
4.9变频调速
4.10调压器
5伏安特性的测定
5.1极化曲线
5.2极化曲线的绘制
5.3极化的影响因素
5.4双点极化
5.5等效电源
5.6负反馈对伏安特性的影响
5.7影响负反馈特性的因素
5.8PN结的反向击穿
5.9Pn结的正向击穿
5.10反向恢复时间
5.11正向导通角
5.12导纳矩阵
6温度系数的分析
6.1引言
6.2温升的定义与分类
6.3温度系数的定义
6.4温度系数的计算
6.5TTL型温度系数分析仪
6.6CWM型温度控制器
6.7TC热敏元件
6.8STC热敏元件
6.9RTD热敏元件
6.10MOSFET的热稳定性
6.11结温的测量
6.12热阻的测量
7.压阻效应法的特点
7.1引言
7.2工作原理
7.3应用
7.4注意事项
7.5主要参数
7.6典型应用
7光电效应法的特点
7.1引言
7.2工作原理
7.3应用
7.4注意事项
8压阻作用法的特点
8.1引言
8.2工作原理
8.3应用
8.4使用注意事项
8.5参数
8.6性能指标
9其他测控系统简介
9.1磁栅
9.2霍尔传感器
9.3开关磁阻式传感器
9.4光纤传感器
9.5超声波
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